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大规模集成电路测试系统(Direct Mount) QT-9000
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数字模拟混合信号IC测试系统(Cable Mount) QT-8100
数位模拟混合信号IC测试系统(Direct Mount)QT-8200
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分立器件高速测试系统 QT-6000
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Test System

QT-6000 Series分立器件高速测试系统 QT-6000

分立器件高速测试系统 QT-6000

应用范围:QT-6000测试系统适用于测量中小功率三极管、场效应管、二极管等产品及晶圆,可扩展内置电容测试(DC+CAP)、scanbox等。

特点:
· 高速测试,UPH>40K
· 可一拖二实现100% FT+QA并行测试
· 先进的电容高速测试方案,实现CAP+DC同工位测试
· 内置UIS测试方案,实现DC+UIS同工位测试
· LCR精准电容测试,最小测试电容值100fF

主要技术指标:
测量精度 电流:<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5nA
电压:<0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 1.5mV
电容:0.5% 读值 + 0.05% 量程 + 10fF
技术指标 最大电流 电压30A /1200V
电容表测量范围:0.2-300pF(BIAS电压范围0-80V, 1MHz)
LCR测量范围:0.1pF-0.1uF(BIAS电压范围0-30V, 1MHZ)
分辨率 16 bit  ADC/DAC
波形记录 内部示波器

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